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在發展中求生存,不斷完善,以良好信譽和科學的管理促進企業迅速發展首頁-產品展示-工業及半導體檢測解決方案-金相顯微鏡-RX50M研究級正置金相顯微鏡
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RX50M 研究級正置金相顯微鏡集舜宇多項創新于一身,從外觀到性能都緊跟流行設計風向,致力于拓展工業領域全新格局。RX50M 秉承舜宇不斷探索不斷超越的品牌設計理念,為客戶提供完善的工業檢測解決方案。
RX50M 系列觀察筒,采用寬光束成像系統設計,支持 25mm 超寬視野觀察,帶給您全新的大視野體驗。
偏振系統包括起偏器和檢偏器,可做偏光檢測,在半導體和 PCB 檢測中,可消除雜光,細節更清楚。檢偏器分為固定式檢偏器和 360 度旋轉式檢偏器。360°旋轉式檢偏器可在不移動標本的情況下,方便的觀察標本在不同偏振角度光線下呈現的狀態。可在偏振系統的基礎上加載舜宇全新研發微分干涉器,建立諾曼爾斯基微分干涉襯比系統。
人機工程學設計,觸手可及的操作。鏡座底側低手位調光裝置,可靈活調節光線強弱,并在數字調光屏上顯示相應電壓。可配合左手位粗微調焦,提高工作效率。
專業無限遠長工作距半復消色差金相物鏡,明暗場物鏡只需一個鏡頭就能勝任明場、暗場、偏光、微分干涉觀察。暗場圖像亮度得到增強,提高了樣品的檢出能力。嚴格挑選高透過率的鏡片和先進的鍍膜技術,真實還原樣品的自然色彩。
RX50M 研究級正置金相顯微鏡可提供反射明場、反射暗場、透射明場、透反射偏光、反射微分干涉等多種觀察功能。
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型號:RX50M
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